Introdução O Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) é uma ferramenta imprescindível na fase de produção e análise de materiais, pois esse processo tem exigido um número detalhado de informações microestruturais. O qual, muitas vezes, só é obtido através do MEV, já que seu desempenho é superior aos microscópios óticos, podendo alcançar um aumento de até 900 000 vezes. No entanto, as ferramentas disponíveis no mercado de quantificação de imagens geradas pelo MEV não são capazes de obter resultados satisfatórios. Apesar de sua aparência ser tridimensional, a imagem obtida pelo MEV é bidimensional, ficando difícil de predizer a profundidade da imagem. Dessa forma, se tornou necessária a criação de uma ferramenta mais eficiente que pudesse predizer a profundidade das imagens obtidas no MEV com mais exatidão, para uma melhor quantificação dela. |  |
Objetivos
A tecnologia tem como objetivo a criação de um software com a capacidade de quantificar imagens obtidas pelo Microscópio Eletrônico de Varredura de uma forma mais eficiente, levando em consideração a cor e a área de superfície do material.
Aplicações e público alvo
A tecnologia é aplicada em análises de imagens obtidas pelo Microscópio Eletrônico de Varredura.
Público alvo: Laboratórios de eletrônica, geologia, ciência e engenharia dos materiais, ciências da vida, dentre outros.
Estágio de desenvolvimento
O software em questão já está na fase de testes.
Patente registrada sobre n° BR512016000255-7